191015, Россия, Санкт-Петербург, Шпалерная ул., д. 49

Структурно-аналитические исследования материалов

Комплекс используемого оборудования обеспечивает анализ химического состава, в т.ч. локальный, определение физико-механических свойств, изучение внутреннего строения материалов при разработке и производстве сталей и сплавов, при создании технологии получения материалов и покрытий.

АНАЛИЗ ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ:

  •    атомно-эмиссионный спектральный анализ;

  •    рентгенофлуоресцентная спектроскопия;

  •    ИК-абсорбционная спектрометрия.

Основное оборудование:

  •     ICP-спектрометр Optima 7300DV.

  •     Рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800.

  •     Комплекс газоанализаторов LECO CS-230, TC-500


Анализатор азота и кислорода LECO TC500

Анализатор серы и углерода LECO CS230

АНАЛИЗ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ

Исследование структуры методами оптической металлографии:

  •     определение и количественная оценка загрязненности стали неметаллическими включениями;

  •     определение и оценка микроструктуры на соответствие нормативной документации;

  •     количественный металлографический анализ с использованием анализатора изображений;

  •     определение и оценка макроструктуры темплета (в т.ч. снятие серных отпечатков);

  •     определение микротвердости;

  •     количественная оценка пористости покрытий.

Исследование структуры методом растровой и просвечивающей электронной микроскопии:

  •     анализ локального химического состава материалов;

  •     анализ структуры материала методами электронной микроскопии;

  •     фрактографическое изучение изломов и проведение экспертизных исследований, связанных с диагностикой разрушения материалов по виду излома;

  •     электронно-микроскопическое исследование тонкой структуры материалов с полной кристаллогеометрической аттестацией фаз;

  •     обнаружение и получение изображений структурных элементов, определение геометрических размеров частиц (фаз) размером от 0,5 нм.

  •     определение элементного состава и типа кристаллической решетки формирующихся нанообъектов;

  •     выявление, идентификация и количественная аттестация дефектов кристаллического строения атомного, микро- и мезомасштабного уровня;

  •     определение относительной доли различных структурных составляющих;

  •     получение распределений аморфных нанофаз и нанокристаллитов по форме и размерам;

  •     получение распределений ориентировок нанокристаллических структурных элементов (кристаллографическая текстура);

  •     получение и анализ распределения разориентировок на границах нанокристаллитов по величине угла и направлению;

  •     получение и анализ межфазных ориентационных соотношений и межфазных разориентировок;

Комплекс оборудования для проведения электронно-микроскопических и электронно-зондовых испытаний позволяет получать достоверную информацию о морфологии и внутреннем строении наноструктур с локальностью не менее 1 нм.

Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G230 Super Twin

Электронный сканирующий микроскоп Tescan Vega

Кристаллографический анализ:

  •     качественный анализ фазового состава кристаллических материалов и малых количеств вещества;

  •     рентгеноструктурный количественный анализ известного фазового состава кристаллических материалов;

  •     определение текстурного состояния и характеристических структурных параметров разрабатываемых материалов

  •     контроль макронапряжений в поликристаллических материалах и оценка их деградации в процессе эксплуатации;

  •     определение глубины зон пластической деформации под поверхностью разрушения;

  •     рентгеноструктурный анализ тонких пленок и покрытий;

  •     высокотемпературные рентгеноструктурные исследования материалов;

  •     исследование наноразмерных дисперсных фаз в конструкционных сталях и сплавах на основе комплексного использования методов дифракции и рассеяния рентгеновского излучения электронов и нейтронов.

Многофункциональный дифрактометр Rigaku Ultima IV

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ

    Исследование упругих характеристик сталей и сплавов.

       Определение электрических и магнитных свойств материалов:

  •    измерение магнитной проницаемости маломагнитной стали;

  •    измерение содержания ферритной фазы в аустенитной стали;

  •    измерение магнитных свойств ферромагнитных материалов;

  •    измерение коэрцитивной силы неразрушающим способом;

  •    определение электросопротивления.

      Определение теплофизических свойств материалов:

  •    измерение теплопроводности;

  •    измерение удельной теплоемкости;

  •    измерение температуры и удельной теплоты фазовых переходов;

  •    дилатометрический анализ.