Структурно-аналитические исследования материалов
Комплекс используемого оборудования обеспечивает анализ химического состава, в т.ч. локальный, определение физико-механических свойств, изучение внутреннего строения материалов при разработке и производстве сталей и сплавов, при создании технологии получения материалов и покрытий.
АНАЛИЗ ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ:
-
атомно-эмиссионный спектральный анализ;
-
рентгенофлуоресцентная спектроскопия;
-
ИК-абсорбционная спектрометрия.
Основное оборудование:
-
ICP-спектрометр Optima 7300DV.
-
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800.
-
Комплекс газоанализаторов LECO CS-230, TC-500
Анализатор азота и кислорода LECO TC500
Анализатор серы и углерода LECO CS230
АНАЛИЗ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛОВ
Исследование структуры методами оптической металлографии:
-
определение и количественная оценка загрязненности стали неметаллическими включениями;
-
определение и оценка микроструктуры на соответствие нормативной документации;
-
количественный металлографический анализ с использованием анализатора изображений;
-
определение и оценка макроструктуры темплета (в т.ч. снятие серных отпечатков);
-
определение микротвердости;
-
количественная оценка пористости покрытий.
Исследование структуры методом растровой и просвечивающей электронной микроскопии:
-
анализ локального химического состава материалов;
-
анализ структуры материала методами электронной микроскопии;
-
фрактографическое изучение изломов и проведение экспертизных исследований, связанных с диагностикой разрушения материалов по виду излома;
-
электронно-микроскопическое исследование тонкой структуры материалов с полной кристаллогеометрической аттестацией фаз;
-
обнаружение и получение изображений структурных элементов, определение геометрических размеров частиц (фаз) размером от 0,5 нм.
-
определение элементного состава и типа кристаллической решетки формирующихся нанообъектов;
-
выявление, идентификация и количественная аттестация дефектов кристаллического строения атомного, микро- и мезомасштабного уровня;
-
определение относительной доли различных структурных составляющих;
-
получение распределений аморфных нанофаз и нанокристаллитов по форме и размерам;
-
получение распределений ориентировок нанокристаллических структурных элементов (кристаллографическая текстура);
-
получение и анализ распределения разориентировок на границах нанокристаллитов по величине угла и направлению;
-
получение и анализ межфазных ориентационных соотношений и межфазных разориентировок;
Комплекс оборудования для проведения электронно-микроскопических и электронно-зондовых испытаний позволяет получать достоверную информацию о морфологии и внутреннем строении наноструктур с локальностью не менее 1 нм.
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G230 Super Twin
Электронный сканирующий микроскоп Tescan Vega
Кристаллографический анализ:
-
качественный анализ фазового состава кристаллических материалов и малых количеств вещества;
-
рентгеноструктурный количественный анализ известного фазового состава кристаллических материалов;
-
определение текстурного состояния и характеристических структурных параметров разрабатываемых материалов
-
контроль макронапряжений в поликристаллических материалах и оценка их деградации в процессе эксплуатации;
-
определение глубины зон пластической деформации под поверхностью разрушения;
-
рентгеноструктурный анализ тонких пленок и покрытий;
-
высокотемпературные рентгеноструктурные исследования материалов;
-
исследование наноразмерных дисперсных фаз в конструкционных сталях и сплавах на основе комплексного использования методов дифракции и рассеяния рентгеновского излучения электронов и нейтронов.
Многофункциональный дифрактометр Rigaku Ultima IV
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ
Исследование упругих характеристик сталей и сплавов.
Определение электрических и магнитных свойств материалов:
-
измерение магнитной проницаемости маломагнитной стали;
-
измерение содержания ферритной фазы в аустенитной стали;
-
измерение магнитных свойств ферромагнитных материалов;
-
измерение коэрцитивной силы неразрушающим способом;
-
определение электросопротивления.
Определение теплофизических свойств материалов:
-
измерение теплопроводности;
-
измерение удельной теплоемкости;
-
измерение температуры и удельной теплоты фазовых переходов;
-
дилатометрический анализ.